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升級版 ASTM D645 全自動測厚儀 測厚分辨率高達0.1微米

更新時間:2023-11-27 點擊量:957

升級版 ASTM D645 全自動測厚儀(yi) 測厚分辨率高達0.1微米


一,用途

用於(yu) 塑料薄膜量程範圍內(nei) 各種材料的JING確厚度測量的設備,采用機械式測量方法。

 

二,執行標準

GB 6672(塑料薄膜和薄片厚度的測定--機械測量法)GB/T 451.3GB/T 6547ASTM D645ASMT D374ASTM D1777TAPPI T411ISO 4593ISO 534ISO 3034DIN 53105DIN 53353JIS K6250JIS K6328JIS K6783JIS Z1702BS 3983BS 4817ISO4648等測試標準。

 

三,技術特點

本測厚儀(yi) 采用JINYOU質傳(chuan) 感器,測厚分辨率高達0.1微米,選用YOU質傳(chuan) 動元件,確保了試驗結果的穩定性與(yu) 準確性。大液晶屏顯示,操作簡便,配備微型打印機直接打印試驗報告。另外具有USB接口,通過選購軟件實現數據的YONG久性存儲(chu) 、查詢、打印;軟件功能強大。

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